Méthode de Davanne et Martin

applicable aux systèmes épais

lorsque leurs éléments cardinaux sont extérieurs ( cas de l'objectif photographique)

Le principe de la méthode est basé, comme dans la méthode de Silbermann, sur la recherche des plans antiprincipaux pour lesquels : \(\frac{\overline{A'B'}}{\overline{AB}}=-1\)

On a alors :

\(d=\overline{AA'}=\overline{AF}~+~\overline{FS_{\mathit1}}~+~\overline{S_{\mathit1}S_{\mathit2}}~+~\overline{S_{\mathit2}F'}~+~\overline{F'A'}\)

soit : \(~2f'=d~-~e~-~\overline{FS_{\mathit1}}~-~\overline{S_{\mathit2}F'}~~~~~~(1)\)

On commence par placer un objet[1] \(AB\) dans le plan focal objet d'une lentille auxiliaire \(L\) ( réglage par autocollimation) puis on fait l'image[2] nette sur un écran de cet objet rejeté à l'infini ; on repère ainsi la position de \(F'\) par rapport à la face de sortie \(S_{\mathit2}\) du système épais soit : \(\overline{S_{\mathit2}F'}\)

On recommence en retournant le système centré face pour face d'où la position de \(F\) par rapport à la face \(S_{\mathit1}\) du système centré : \(\overline{S_{\mathit1}F}\)

On enlève la lentille auxiliaire L et on déplace le système centré et l'écran jusqu'à ce que l'on obtienne une image égale à l'objet et renversée : image et objet sont donc dans les plans antiprincipaux, d'où la mesure de la distance d.

On peut alors déduire la valeur de f ' par la relation (1).